半導(dǎo)體制造流程(四) - 刻蝕
半導(dǎo)體制造流程(四) - 刻蝕
半導(dǎo)體(semiconductor)指常溫下導(dǎo)電性能介于導(dǎo)體與絕緣體之間的材料。半導(dǎo)體應(yīng)用領(lǐng)域非常廣泛。從科技或是經(jīng)濟(jì)發(fā)展的角度來(lái)看,半導(dǎo)體的重要性都是非常巨大的。大部分的電子產(chǎn)品都和半導(dǎo)體有著極為密切的關(guān)聯(lián)。常見(jiàn)的半導(dǎo)體材料有硅、鍺、砷化鎵等,硅是各種半導(dǎo)體材料應(yīng)用中最具有影響力的一種。
每個(gè)半導(dǎo)體產(chǎn)品的制造都需要數(shù)百個(gè)工藝,整個(gè)制造過(guò)程分為八個(gè)步驟:晶圓加工 - 氧化 - 光刻 -刻蝕 - 薄膜沉積 - 互連 - 測(cè)試 - 封裝。今天小編給大家介紹的是半導(dǎo)體制造的第四個(gè)步驟:刻蝕,希望能對(duì)大家有所幫助!
半導(dǎo)體制造第四步:刻蝕
在晶圓上完成電路圖的光刻后, 就要用刻蝕工藝來(lái)去除任何多余的氧化膜且只留下半導(dǎo)體電路圖。要做到這一點(diǎn)需要利用液體、氣體或等離子體來(lái)去除選定的多余部分。刻蝕的方法主要分為兩種,取決于所使用的物質(zhì):使用特定的化學(xué)溶液進(jìn)行化學(xué)反應(yīng)來(lái)去除氧化膜的濕法刻蝕,以及使用氣體或等離子體的干法刻蝕。
濕法刻蝕
使用化學(xué)溶液去除氧化膜的濕法刻蝕具有成本低、刻蝕速度快和生產(chǎn)率高的優(yōu)勢(shì)。然而,濕法刻蝕具有各向同性的特點(diǎn),即其速度在任何方向上都是相同的。這會(huì)導(dǎo)致掩膜(或敏感膜)與刻蝕后的氧化膜不能完全對(duì)齊,因此很難處理非常精細(xì)的電路圖。
干法刻蝕
干法刻蝕可分為三種不同類型。第一種為化學(xué)刻蝕,其使用的是刻蝕氣體(主要是氟化氫)。和濕法刻蝕一樣,這種方法也是各向同性的,這意味著它也不適合用于精細(xì)的刻蝕。
第二種方法是物理濺射,即用等離子體中的離子來(lái)撞擊并去除多余的氧化層。作為一種各向異性的刻蝕方法,濺射刻蝕在水平和垂直方向的刻蝕速度是不同的,因此它的精細(xì)度也要超過(guò)化學(xué)刻蝕。但這種方法的缺點(diǎn)是刻蝕速度較慢,因?yàn)樗耆蕾囉陔x子碰撞引起的物理反應(yīng)。
最后的第三種方法就是反應(yīng)離子刻 蝕 (RIE)。RIE結(jié)合了前兩種方法,即在利用等離子體進(jìn)行電離物理刻蝕的同時(shí),借助等離子體活化后產(chǎn)生的自由基進(jìn)行化學(xué)刻蝕。除了刻蝕速度超過(guò)前兩種方法以外,RIE 可以利用離子各向異性的特性,實(shí)現(xiàn)高精細(xì)度圖案的刻蝕。
如今干法刻蝕已經(jīng)被廣泛使用,以提高精細(xì)半導(dǎo)體電路的良率。保持全晶圓刻蝕的均勻性并提高刻蝕速度至關(guān)重要,當(dāng)今最先進(jìn)的干法刻蝕設(shè)備正在以更高的性能,支持最為先進(jìn)的邏輯和存儲(chǔ)芯片的生產(chǎn)。
以上是關(guān)于半導(dǎo)體制造流程(四) - 刻蝕的相關(guān)內(nèi)容,希望能您你有所幫助!
想要了解關(guān)于芯片半導(dǎo)體清洗的相關(guān)內(nèi)容,請(qǐng)?jiān)L問(wèn)我們的“芯片半導(dǎo)體清洗”專題了解相關(guān)產(chǎn)品與應(yīng)用 !
合明科技是一家電子水基清洗劑 環(huán)保清洗劑生產(chǎn)制造商,其產(chǎn)品覆蓋電子加工過(guò)程整個(gè)領(lǐng)域。歡迎使用合明科技水基清洗劑產(chǎn)品!
【閱讀提示】
以上為本公司一些經(jīng)驗(yàn)的累積,因工藝問(wèn)題內(nèi)容廣泛,沒(méi)有面面俱到,只對(duì)常見(jiàn)問(wèn)題作分析,隨著電子產(chǎn)業(yè)的不斷更新?lián)Q代,新的工藝問(wèn)題也不斷出現(xiàn),本公司自成立以來(lái)不斷的追求產(chǎn)品的創(chuàng)新,做到與時(shí)俱進(jìn),熟悉各種生產(chǎn)復(fù)雜工藝,能為各種客戶提供全方位的工藝、設(shè)備、材料的清洗解決方案支持。
【免責(zé)聲明】
1. 以上文章內(nèi)容僅供讀者參閱,具體操作應(yīng)咨詢技術(shù)工程師等;
2. 內(nèi)容為作者個(gè)人觀點(diǎn), 并不代表本網(wǎng)站贊同其觀點(diǎn)和對(duì)其真實(shí)性負(fù)責(zé),本網(wǎng)站只提供參考并不構(gòu)成投資及應(yīng)用建議。本網(wǎng)站上部分文章為轉(zhuǎn)載,并不用于商業(yè)目的,如有涉及侵權(quán)等,請(qǐng)及時(shí)告知我們,我們會(huì)盡快處理;
3. 除了“轉(zhuǎn)載”之文章,本網(wǎng)站所刊原創(chuàng)內(nèi)容之著作權(quán)屬于合明科技網(wǎng)站所有,未經(jīng)本站之同意或授權(quán),任何人不得以任何形式重制、轉(zhuǎn)載、散布、引用、變更、播送或出版該內(nèi)容之全部或局部,亦不得有其他任何違反本站著作權(quán)之行為。“轉(zhuǎn)載”的文章若要轉(zhuǎn)載,請(qǐng)先取得原文出處和作者的同意授權(quán);
4. 本網(wǎng)站擁有對(duì)此聲明的最終解釋權(quán)。